- 도서명3차원 측정검사 실험 - 반도체.디스플레이 테스트 검사용
- 지음/옮김김현후, 정환성, 황성준, 왕현철, 정현석, 강희성 (지은이)
- 주제 분류국내도서>대학교재/전문서적>공학계열>전기전자공학>반도체공학
- 책소개3차원 시험검사장비인 NexMet의 체계적인 이론과 실험에 대한 이해를 돕기 위해 집필된 교재다. 장비의 근본 원리에서부터 실제 측정법, 그리고 분석 결과의 해석 및 응용까지를 폭넓게 아우르고 있다. 실제 장비를 다룰 때 반드시 필요한 개념과 경험을 함께 제공하는 데 중점을 두었다.
